面阵测色
方案优势
PRODUCT ADVANTAGES
高测量效率
该系统能够以1秒的间隔同时测量多种颜色和样品，效率比传统单点测色快数倍。
测量区域大
最大可检测覆盖420mm×340mm的区域，单次可同时检测比对4个区域。
支持定制开发
针对不同行业客户的颜色检测需求可提供硬件设备和软件算法的定制服务。
方案列表
SOLUTION LIST
如果有合作意向，欢迎联系我们：contact@seetrum.com
面阵测色方案定制
提供多维度的产品定制开发服务，包括但不限于
硬件设备光源条件、检测指标、测色类型等
软件算法光谱算法、光谱数据、测色应用软件等
与光面阵多光谱测色系统方案
系统简介
在纺织印染、油漆涂料、包装印刷等行业，色彩是产品质量的核心。色差客诉、人眼判色不准、效率低下、数据无法沉淀等测色问题已成为企业进一步发展的强大阻力。
传统人眼判定方式，判色主观性强，受生理限制容易出现工作质量不稳定问题，导致争议多、沟通成本高；另外无法高效传递颜色信息给上下游、信息利用率低，难以满足日益严格的色差管控要求和产业链周转效率提高的发展诉求。
与光科技创新性地研发出全球首款基于计算光谱原理的面阵多光谱测色系统，专为表面平坦、颜色不均匀、形状不规则、颗粒纹理等特点的漫反射样品设计。它能够以1秒的间隔同时测量多种颜色和样品，高效准确、测量区域大、可无接触测色，兼具出色稳定性、低维护成本，支持灵活扩展。系统可保存实物彩色图片、多元化数据档案，方便用户进行精确的颜色评估、数据分析，导出报告以实现数据共享。
系统搭载与光科技自主研发的斓彩®快照式光谱成像芯片，该芯片采用创新的像元级宽光谱调制技术，单次曝光即可捕捉场景的二维图像信息与面阵光谱信息，无需复杂的光路、精密光学元件组合或推扫式机械结构，高度集成化、大大提高设备可靠性。同时，我们首创性地研发了计--算光谱颜色重建算法，采用了自主设计定制的低光衰、具有控温功能的专业光源照明系统，更好地保障设备稳定性。
主要功能
-- 支持CIE1964、CIE1976、CIELAB、CIE2000等多种颜色指标测量输出。
-- 支持4种标准光源条件，可根据客户需求定制。
-- 支持划定检测区域、按区域检测颜色，可同时测试1~4个区域。
-- 对颜色及色差结果输出偏向分析结果，并支持颜色偏向图直观可视化展示。
-- 色差热力图展示功能，在检测区域内，支持可视化展示色差分布。
-- 可应用于色差接近的样品进行色光分类。
-- 支持导出表格、检测报告，可查看物料实物彩色图片和数据丰富信息内容，数据文件可保存到本地电脑，便于后续追溯查询。
-- 支持查看历史数据文件，离线二次分析。
-- 标定仅需2~3秒。
-- 支持设备工作参数配置，支持自动、手动曝光控制，手动可设曝光时间。
-- 提供二次集成开发的算法SDK包 。
应用场景
— 纺织印染产线中的打样定板、缸差检测、色光分类、批次质检。
— 涂料油漆类凹凸纹理色板样品的均匀性与色差检测。
— 包装印刷产业中的色卡全色块检验、食品包装批次管控。
— 色卡、油墨样品的多色块快速比对、顺序与色差双重校验。
与光针对不同行业客户的颜色检测需求可提供硬件设备和软件算法的定制服务，满足客户的个性化应用需求。从硬件分光到计算光谱，从单点测色到面阵成像，从人工经验到智能数据，与光面阵多光谱测色系统，以计算光谱创新技术破解行业沉疴，为工业颜色检测提供新思路新标准。
应用场景
APPLICATION SCENARIO
色差检测
纺织印染
真石漆涂料
包装印刷
色卡品控
